저전력 집적 회로의 특성화 방법

+ 정밀 소스 / 측정 장치

소스 측정 장치를 사용한 저전력 IC 특성화

저전력 집적 회로(IC)의 전류/전압 특성을 측정하기 위한 기존 테스트 설정에서는 다양한 기본 장비가 필요합니다. 이러한 설정에는 전압 요구사항이 다른 다양한 테스트 포트에 필요한 전압을 공급하기 위한 여러 전원 공급기와 전압과 전류 측정을 위한 디지털 멀티미터(DMM)가 포함됩니다. 일부 테스트 사례에는 신호 시뮬레이션을 위한 펄스 생성기와 시간 도메인의 신호를 캡처하기 위한 디지타이저가 필요합니다.

소스 측정 장치(SMU)를 전원 공급기와 전류계, 전압계 및 디지타이저로 사용하여 멀티채널 동시 전류/전압(IV) 측정을 수행할 수 있습니다. 슬립 전류 측정 전에, 특히 정밀도 수준이 밀리암페어(mA) 미만인 IC의 경우, 장비 자체 교정과 정확한 측정 범위를 설정하십시오. 정확한 동적 측정을 위해, 슬립 상태에서 활성 상태로 전환하는 도중 신호를 캡처할 수 있을 정도로 SMU의 샘플링 속도가 충분히 빨라야 합니다.

저전력 IC 특성화 솔루션

저전력 IC를 특성화하려면 여러 전원 공급기, 디지털 멀티미터(DMM), 펄스 생성기 및 디지타이저를 포함한 다양한 기본 장비가 필요합니다. 키사이트 저전력 IC 특성화 솔루션은 펄서/디지타이저와 PW9251A PathWave IV 곡선 측정 소프트웨어가 통합된 1U 랙 공간에 20개의 SMU 채널을 제공하는 PZ2100 시리즈 SMU를 포함합니다. 이 솔루션을 사용하면 매우 낮은 전류 및 전압 수준의 다양한 작동 조건에서 IV 특성화를 수행해서 회로의 설계를 검증하고, 장애 또는 문제를 식별하고, 성능을 최적화할 수 있습니다.

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