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파라메트릭 테스트 솔루션 개요
키사이트 파라메트릭 테스트는 전자 부품의 전기적 특성을 정확하고 신뢰할 수 있게 웨이퍼 테스트하는 데 사용되는 솔루션입니다. 다양한 반도체 특성화, 전자 부품, 모듈 및 시스템을 테스트하는 데 사용할 수 있으며, 생산, 연구 개발 등 다양한 분야에서 활용됩니다.
출시 시기 단축 및 테스트 비용 절감
- 높은 처리량으로 테스트 비용 절감
- R&D와 생산 단계에서 테스트 과제 극복
- 저수준 정밀 측정 성능
- 전 세계 많은 고객이 현장에서 입증한 솔루션
- 뛰어난 엔지니어들에 의한 글로벌 지원
- 적은 전환 비용으로 다양한 솔루션 라인업
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최대 SPGU 출력 채널 수:
N/A
최대 측정 핀 수:
29
최소 전류 측정 분해능:
10 fA
최소 전압 측정 분해능:
2 µV
최대 SPGU 출력 채널 수:
N/A
최대 측정 핀 수:
100
최소 전류 측정 분해능:
0.1 fA
최소 전압 측정 분해능:
2 µV
최대 SPGU 출력 채널 수:
4 channels
최대 측정 핀 수:
100
최소 전류 측정 분해능:
0.1 fA
최소 전압 측정 분해능:
2 µV
최대 SPGU 출력 채널 수:
N/A
최대 측정 핀 수:
12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
최소 전류 측정 분해능:
N/A
최소 전압 측정 분해능:
N/A
최대 SPGU 출력 채널 수:
N/A
최대 측정 핀 수:
2
최소 전류 측정 분해능:
1 pA
최소 전압 측정 분해능:
N/A
최대 SPGU 출력 채널 수:
N/A
최대 측정 핀 수:
48
최소 전류 측정 분해능:
1 fA
최소 전압 측정 분해능:
2 µV
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