와이드 밴드갭 반도체 테스트 방법

+ 전력 디바이스 분석기

더블 펄스 테스트로 WBG 반도체 특성화

질화 갈륨(GaN)과 같은 와이드 밴드갭(WBG) 반도체 소재의 경우 스위칭 트랜션트 도중 손실을 방지하기 위해 정적 파라미터와 동적 파라미터를 모두 테스트해야 합니다. 더블 펄스 테스트(DPT) 시스템은 WBG 반도체의 JEDEC 표준을 기반으로 한 동적 테스트를 수행할 수 있으며 여기에는 활성화, 비활성화, 스위칭, 역회복, 게이트 전하가 포함됩니다.

DPT 시스템에는 장비, 프로브, 안전 시스템, 자동 제어 소프트웨어, 자동 교정 루틴, 테스트 픽스처, 다양한 디바이스 구성을 위한 테스트 보드가 포함되어야 합니다. 부하 유도자도 필요합니다. 장비의 설정을 마치면 보드 파라미터를 소프트웨어의 하드웨어 구성 메뉴에 입력하고 원하는 외부 유도자와 해당 값을 지정합니다. 그런 다음 R²GC 전류 센서를 설정합니다. 설정이 끝나면 디바이스를 선택하여 테스트를 구성합니다.

더블 펄스 테스트 솔루션

반자동식 교정 방법과 측정 기법을 사용하여 더블 펄스 테스트(DPT)를 수행합니다. 키사이트 PD1500A 동적 전력 디바이스 분석기 / 더블 펄스 테스터는 올인원 테스트 솔루션으로, JEDEC 사양에 따라 신뢰할 수 있고 반복 가능한 와이드 밴드갭(WBG) (SiC, GaN) 전력 반도체 동적 특성의 측정이 가능합니다. 다음과 같은 측정 기법이 포함되어 있습니다: 프로브 보상, 오프셋 조정, 디스큐, 공통 모드 노이즈 제거.

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