주요 특징

주요 특징

  • 키사이트 및 Bitifeye의 엄선된 고속 스위칭 시스템에서 자동 제어 기능 통합
  • 81150A 또는 81160A Pulse Function Arbitrary Noise Generator를 사용하여 엔드포인트 또는 RC(Root Complex) 디바이스에 대한 DUT 제어 통합
  • Sigtest를 사용하여 PCISIG CEM 인증 테스트 및 보고서 작성을 자동화하기 위한 워크샵 인증 모드
  • 테스트 설정 마법사를 통해 테스트를 선택, 구성, 연결 및 실행하고 결과를 보고
  • 측정 연결 설정이 표시되고 각 테스트를 위해 오실로스코프 설정이 자동으로 구성
  • 테스트 결과 보고서는 문서 테스트 구성, 수행된 측정, 통과/탈락 상태, 마진 분석 및 파형을 문서화하고, 자동화된 멀티레인 테스트에서 스위칭 솔루션이 지원

지원되는 표준

  • PCI Express® 기본 및 CEM 4.0 송신기 테스트
  • PCI Express® 1.1, 2.0, 3.0 및 4.0 레퍼런스 클럭 테스트
  • PCI Express® 1.0, 1.1, 2.0, 3.0 CEM 및 기본 사양 테스트
  • PCI Express® SFF-8639 (U.2) 엔드포인트 및 RC(Root Complex) 테스트
  • CEM(인증) 분석을 위해 1.0a, 1.1, 2.0, 3.0, 4.0에 대한 SigTest와 일관된 결과 제공
  • InfiniiSim Waveform Transformation Toolset(옵션)으로 테스트 픽스처 및 케이블의 디임베딩(de-embedding) 지원

요건

  • PCI-SIG® 인증 테스트 픽스처
  • 직렬 데이터 분석
  • InfiniiSim Waveform Transformation Toolset(옵션)
  • PrecisionProbe 오실로스코프 케이블 및 프로브 보정(옵션)

확장 용이성

  • 사용자 정의 어플리케이션 툴(www.keysight.com/find/uda)을 사용하여 다음을 수행할 수 있습니다.
  • 맞춤형 테스트 생성 및 완전 통합, 구성 변수 및 연결 지침
  • MATLAB 스크립트 또는 디바이스 컨트롤러 같은 외부 어플리케이션 호출을 실행 시퀀스에 삽입
  • 테스트 패키지에서 사용되는 추가적인 외부 계측기 구성

PCI Express 전기 성능 검증 및 인증 소프트웨어는 PCI Express 설계를 신속하고 손쉽게 확인 및 디버그하는 방법을 제공합니다. PCI Express 전기 테스트 소프트웨어는 엔드포인트, RC(Root Complex) 및 새로운 ASIC(칩 수준)에서 PCI Express 전기 테스트를 자동으로 실행하고 결과를 유연한 보고서 형식으로 표시할 수 있도록 해줍니다. 또한 보고서는 측정 데이터 외에도 디바이스가 각 테스트를 얼마나 아슬아슬하게 통과 또는 실패했는지 보여주는 마진 분석도 제공합니다.

PCI Express 전기 테스트 소프트웨어에는 16GT/s에서 송신기가 PCI Express 4.0 기본 사양을 준수하는지 여부를 확인하는 테스트(비상관 지터 측정도 포함)와 업데이트된 PCIe 4.0 레퍼런스 클럭 테스트를 제공하는 기타 테스트가 포함됩니다.

PCI Express 전기 테스트 소프트웨어는 8G 및 16G 기본 지터 측정을 위해 Q-도메인 접근 방식(PCI Express 3.0 및 4.0 기본 사양)을 활용하고, 5G 지터 분리를 위해 Dual Dirac 방법을 사용합니다(PCI Express 2.0 기본 및 카드 전자기계 사양에 설명). 이 방법은 PCI Express TX 측정과 PCI-SIG의 독립형 Sigtest 소프트웨어를 사용하여 완료한 측정과의 일관성을 보장합니다.

PCI Express 4.0 및 PCI Express 3.0 측정을 위해 이 소프트웨어에는 16G 및 8G 고유의 기본 사양 파라미터를 계산하기 위한 새로운 알고리즘이 포함되어 있습니다.

  • TX 단위 간격
  • TX 전압 풀 스윙(TxEQ 없음)
  • EIEOS 중 최소 스윙으로 풀 스윙
  • TX 비상관 전체 지터
  • TX 비상관 결정적 지터
  • TX 비상관 펄스 폭 지터
  • TX 결정적 DjDD 비상관 펄스 폭 지터
  • TX 유사 패키시 손실
  • TXEQ 사전 설정에 대한 디앰퍼시스 및 프리슛 측정(8G PCIe 3.0)
  • TX DC 일반 모드 전압
  • TX AC 일반 모드 전압
  • DC 공통 모드 전압의 TX 델타 절대값

PCI Express 전기 성능 검증 및 인증 소프트웨어는 PCIe 4.0 및 PCIe 3.0 측정을 지원할 뿐만 아니라, 새로운 실리콘, 추가 카드 및 마더보드 시스템에 대해 PCI EXPRESS 1.0a, 1.1 및 2.0 전기 사양에 따라 기존 방식의 전기 테스트를 광범위하게 수행합니다(4장의 기본 사양과 4절의 카드 전자기계 사양 참조). 이 소프트웨어는 PCI Express에 따라 풀 스윙(800 mV) 테스트 외에도 저전력 하프 스윙 디바이스(400 mV)에 대한 테스트도 지원합니다.

PCI Express 전기 성능 검증 및 인증 소프트웨어를 사용하기 위해서는 PCI-SIG의 CEM 또는 U.2 테스트용 인증 테스트 픽스처(CBB3, CLB3 또는 해당 U.2 테스트 픽스처) 중 하나인 고속 직렬 데이터 분석 소프트웨어, Infiniium 고성능 리얼타임 오실로스코프, 최소 2개의 SMA/SMP 케이블 또는 InfiniiMax 활성 차동 프로브가 필요합니다. 일부 측정은 PCI-SIG 인증 테스트 픽스처로 수행할 수 없으며, 이 경우 사용자 정의 테스트 픽스처를 직접 구축하거나 구입해야 합니다. 사용자 지정 픽스처는 보통 새 실리콘 또는 사용자 지정 ASIC을 테스트 중일 때 필요합니다.

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