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장치 모델링 WaferPro 소프트웨어는 트랜지스터 및 회로 부품과 같은 반도체 장치의 자동 웨이퍼 레벨 측정을 수행합니다. 다양한 장비와 웨이퍼 프로버를 위한 턴키 드라이버와 테스트 루틴을 제공합니다. 새로운 사용자 인터페이스를 통해 복잡한 웨이퍼 수준 테스트 계획을 쉽게 설정하고 실행할 수 있으며, 최신 Python 3 프로그래밍 환경을 통해 강력한 사용자 정의 기능이 가능합니다.
장치 모델링 WaferPro에는 다음이 포함됩니다.
- 소프트웨어 학습 곡선을 줄이고 측정 시스템 설정 및 첫 번째 측정 수행 프로세스를 가속화하는 턴키 테스트 알고리즘 및 계측기 드라이버입니다.
- FormFactor Inc., MPI Corporation 등을 포함한 다양한 프로버 제조업체를 지원합니다.
- 신속하게 장비에 연결하고 테스트 계획을 정의할 수 있는 현대적이고 직관적인 사용자 인터페이스입니다.
- FormFactor의 최신 제어 소프트웨어인 Velox 3과의 독점적인 통합. Device Modeling WaferPro와 Velox 간의 WaferSync 인터페이스를 사용하면 테스트 계획 실행 중에 완벽한 웨이퍼 맵 동기화와 RF 교정 자동 모니터링이 가능합니다.
- 데이터 디스플레이 웨이퍼 매핑 데이터 뷰어와 같은 고급 도구는 대용량 데이터를 효율적으로 처리할 때 생산성을 높여줍니다. 또한 Python/PEL 프로그래밍 환경을 사용하면 테스트 알고리즘 및 측정된 데이터 분석을 사용자 정의할 수 있습니다.
디바이스 모델링 WaferPro는 또한 정확하고 반복 가능한 저주파 노이즈 측정을 위한 고성능 노이즈 분석기인 키사이트의 고급 저주파 노이즈 분석기(A-LFNA)용 소프트웨어 플랫폼이기도 합니다.
통합 측정 시스템
소자 모델링 WaferPro는 키사이트테크놀로지스와 FormFactor의 공동 파트너십 프로그램인 통합 측정 시스템(IMS)의 소프트웨어 구성 요소입니다. IMS 제품은 처음 측정 시간을 대폭 단축하고 정확하고 반복 가능한 장치 및 구성 요소 특성화를 제공합니다.
- Integrated Measurement System IMS-K-LFN - 통합 측정 시스템 IMS-K-LFN - 1/f 플리커 노이즈, RTN, 위상 노이즈, 장치 특성화 및 기타 저주파 노이즈 측정을 위한 키사이트 A-LFNA가 포함된 통합 시스템 입니다.
- Integrated Measurement System IMS-K-DC - 통합 측정 시스템 IMS-K-DC - DC 파라메트릭 측정을 위한 Keysight SPA가 포함된 통합 시스템 입니다.
- Integrated Measurement System IMS-K-mmW/THz - 통합 측정 시스템 IMS-K-mmW/THz - RF에서 mmW, THz까지 S-파라미터에 대한 키사이트 VNA를 갖춘 통합 측정 시스템 입니다.
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디바이스 모델링 WaferPro의 기능 확대
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