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光集積回路テスト製品
通シリコンフォトニクスとして知られる光集積回路デバイスは、イントラ・データ・センター通信、データセンター相互接続(DCI)、テレコム、5G/6G、車載用コネクティビティー、高性能コンピューティング、LIDAR、センシング、医療などの産業分野でさらなるメリットを約束
効率的なウエハーレベルテスト
データセンターのインフラ設計マージンや低消費電力目標のための光コンポーネントは、データレートの高速化に伴いプレッシャーを受けています。 これによりさまざまな形でのデバイス集積が要求されます。
- 並列光チャネルを拡大するためにさまざまな光コンポーネントを統合する光集積技術の登場
- 光集積回路(PIC)技術は、電気的なシリコンデバイスと光コンポーネントを集積し、組み合わせてパッケージングするための基盤技術
- チップメーカーはダイの販売へ移行（パッケージ化したデバイスの代わりに）、マルチダイ設計によるさらなる集積化
- 良品ダイ選別のニーズの高まり
- 長期的には、デバイス集積化により、デバイス単体ではテストができなくなる可能性あり。 マルチダイおよび集積デバイスの新しいテスト方法の開発の必要性
キーサイトは、シリコンフォトニクスのウエハーテストのための完全なテストソリューションを提供します：
- 波長可変レーザー光源、偏光シンセサイザー、マルチポートパワーメータ、およびアプリケーションソフトウェアを搭載したソース／メジャメントユニット(SMU) による波長および偏光依存性測定
- キーサイトの光コンポーネント・アナライザによるRFテスト
- FormFactor社プローブステーションによるウエハー自動プロービング
RFおよびDC、O/EおよびE/O設計解析
キーサイトのソリューションポートフォリオは、最大67 GHzおよびそれを超える高周波のO/EおよびE/O測定に必要な完全なツールセットで構成されています。
テストオートメーションで高速化
キーサイトは以下の方法でテスト時間とコスト削減のお手伝いをします：
- KS8400A PathWave Test Automation プラットフォーム(TAP)に含まれるテストレシピ、測定プランの定義と実行
- TAPプラグインによる自動化フォトニック・アプリケーション・スイート
- N7700210Cウエハー・プローバー・プラグインによるウエハー・プローバー・ステーションの自動制御
- O/EおよびE/Oの光コンポーネント・アナライザ(LCA)自動測定 N4370P01A LCA TAPプラグイン
ワンストップのウエハー製造テスト
キーサイトは、完全自動化のウエハープローバーを使用したシリコンフォトニクスウエハー製造テストのソリューションも提供しています：
- ワンストップの統合ソリューション
- 自動ワンパステスト
- 量産の準備
- 高スループットテスト
- システム性能の保証
- 専用のサポートモデル
あなたに最適なソリューションバンドルの選定
キーサイトは、お客様に特化した要件を満たすように設計された魅力的なハードウェア／ソフトウェア／サービスのバンドルを提供しています。
S2501A パッシブ光コンポーネント・テスト・ツールセット（パッシブ、チューニングエレメント付き）
S2502A 光レシーバー・コンポーネント・テスト・ツールセット（DCのみ）
S2503A 光レシーバーおよび変調器コンポーネント・テスト・ツールセット（DCおよびRF)
S2504A 光変調器コンポーネント・テスト・ツールセット（DCおよびRF)
S2505A 光デュアル偏波IQ変調器コンポーネント・オン・ウエハー・テスト（DCおよびRF)
注目のリソース
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