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デバイスモデリング WaferPro
さまざまな測定器とウエハープローバーを使用できる、ウエハーレベル測定／プログラミングテスト用ソフトウェア。
ハイライト
デバイス モデリング WaferPro ソフトウェアは、トランジスタや回路コンポーネントなどの半導体デバイスの自動ウェーハ レベル測定を実行します。さまざまな計測器やウェーハ プローバ用のターンキー ドライバとテスト ルーチンを提供します。新しいユーザー インターフェイスにより、複雑なウェーハ レベル テスト プランの設定と実行が簡単になり、最新の Python 3 プログラミング環境により強力なカスタマイズ機能も実現します。
デバイス モデリング WaferPro には次のものが含まれます。
- ソフトウェアの学習曲線を短縮し、測定システムのセットアップと最初の測定の実行プロセスを加速するターンキー テスト アルゴリズムと計測器ドライバ。
- FormFactor Inc.、MPI Corporation など、さまざまなプローバ メーカーのサポート。
- 計測器への接続とテスト プランの定義を迅速に行うことができる、最新の直感的なユーザー インターフェイス。
- FormFactor の最新の制御ソフトウェアである Velox 3 との独占的な統合。デバイス モデリング WaferPro と Velox 間の WaferSync インターフェイスにより、テスト プラン実行中に完全なウェーハ マップの同期と RF キャリブレーションの自動監視が可能になります。
- データ表示ウェーハ マッピング データ ビューアなどの高度なツールにより、大量のデータを効率的に処理する際の生産性が向上します。さらに、Python / PEL プログラミング環境を使用すると、テスト アルゴリズムと測定データの分析をカスタマイズできます。
デバイス モデリング WaferPro は、正確で再現性の高い低周波ノイズ測定を行う高性能ノイズ アナライザである Keysight の Advanced Low-Frequency Noise Analyzer (A-LFNA) のソフトウェア プラットフォームでもあります。
Integrated measurement systems
Device Modeling WaferPro is a software component of Integrated Measurement Systems (IMS), a joint partnership program by Keysight Technologies and FormFactor. IMS products drastically reduce the time to first measurement and provide accurate and repeatable device and component characterization.
- Integrated Measurement System IMS-K-LFN - Integrated system with Keysight A-LFNA for 1/f flicker noise, RTN, phase noise, device characterization, and other low-frequency noise measurements
- Integrated Measurement System IMS-K-DC - Integrated system with Keysight SPA for DC parametric measurements
- Integrated Measurement System IMS-K-mmW/THz - Integrated Measurement System with Keysight VNA for S-parameters from RF to mmW to THz
Extend the capabilities of Device Modeling WaferPro
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