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Keysightパラメトリックテスターにより、テストコストを削減
 

  • 超高速CPUにより、テストコストを最大20 %削減
  • プロセステストの問題を解決
  • 同期／非同期パラレルテスト機能により、測定スループットの向上とコスト削減を実現
  • 低レベル測定性能の向上
  • カスタム波形の作成
  • 移行コストの削減

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イノベーションへの投資を確保

Featured Resources for the パラメトリック・テスト・ソリューション

Technical Overviews 2019.11.29

Pulsed-IV Parametric Test Solutions

Pulsed-IV Parametric Test Solutions

This Pulsed-IV selection guide provides an overview and side-by-side comparison of all of Keysight's to determine the best solution to meet your unique needs.

2019.11.29

ユーザ・マニュアル 2015.09.29

E5250A スイッチング・マトリクス ユーザ・ガイド

E5250A スイッチング・マトリクス ユーザ・ガイド

設置情報、フロントパネル操作、プログラム例、SCPIコマンド、VXIplug&playドライバ・ファンクション、エラーメッセージなどを記載しています。

2015.09.29

技術概要 2015.01.25

Keysight Technologies パラメトリック測定器 アクセサリ・ガイド

Keysight Technologies パラメトリック測定器 アクセサリ・ガイド

5989-5695JAJP

2015.01.25

Data Sheets 2022.06.28

E5250A Low Leakage Switch Mainframe

E5250A Low Leakage Switch Mainframe

This data sheet includes a complete set of specifications and supplemental technical information.

2022.06.28

Application Notes 2022.12.28

Why Migrate from the 4155C and 4156C to the B1500A?

Why Migrate from the 4155C and 4156C to the B1500A?

This application note shows you the advantages of migrating from 4155C/56C to B1500A.

2022.12.28

Application Notes 2017.12.01

Low and High Frequency C-V Measurement of Semiconductors

Low and High Frequency C-V Measurement of Semiconductors

The E4980A and 4284A Precision LCR Meters with their DC bias capabilities and wide frequency range can make low and high frequency semiconductor C-V measurements.

2017.12.01

Application Notes 2020.07.10

Impedance Measurement Handbook

Impedance Measurement Handbook

Learn the basics of impedance measurements using Keysight LCR meters, impedance analyzers, and network analyzers. Explore impedance measurement techniques and tools.

2020.07.10

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